供应镀层测厚仪

x-strata980结合了大功率x射线管和高分辨率，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态确保极佳的信/躁比，从而降低检测下限。分辨率极高，能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可精确到ppm级，确保产品满足环保要求，帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。您可以针对您的应用选择最合适的分析模型：经验系数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别出问题区域，即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品，大舱门使样品更易放入。应用: --rohs/weee --有害元素痕量分析 --焊料合金成分分析和镀层厚度测量 --电子产品中金和钯镀层的厚度测量 --五金电镀、cvd、pvd镀层的厚度测量 --贵金属合金分析和牌号鉴定 产品特点: --100瓦x射线管 --25mm2pin --多准直器配置 -扫描分析及元素分布成像功能 --灵活运用多种分析模型 --清晰显示样品合格/不合格 --超大样品舱--同时分析元素含量和镀层厚度 技术参数: --元素范围:s(16) to u(92) --可测镀层层数:5 层 (4 层+ 底材),可同时分析25种元素成份 --x射线管功率:100w (50kv and 2ma)微焦点钨靶x射线管 --:25mm2 pin 电制冷固态 --滤波器/准直器:最多可包含5个初级滤波器和4个准直器规格 (0.1, 0.2, 0.3, 1.27mm ?)--数字脉冲处理器:4096多道数据分析功能;自动数据处理,包括死时间修正 --电脑/显示器/系统软件 celeron, 1.86 ghz, 40 gbhd, 512mb ram, 相同或更高配置 15”lcd, 1024 x 768 microsofttm xp sp2 --摄像系统:1/2” cmos-640x480 vga resolution --电源:85~130v or215~265 v, 频率47hz to 63hz --工作环境: 10－40℃、相对湿度小于98%，无冷凝水 --xyz轴行程: 203 x 152 x 216 mm (8 x 6 x 8.5”) --最大样品尺寸 305 x 390 mm (12 x 15.4”)，样品高度为 50mm (2”) 305 x 352 mm (12 x 13.9”)，样品高度为 203mm (8”)--舱室尺寸: (w x d x h):584 x 508 x 220mm (23 x 20 x 8.7”) --外型尺寸 高765mm (30.1”) 宽 700mm (27.5”), 840mm (5.5”) with one mouse pad extended 深790mm (31.1”), 990 mm (39”) with keyboard tray extended

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